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半导体显微镜的性能特点介绍,就差你没看过了

发表时间:2022-12-16  |  点击率:127
   半导体显微镜观测材料、矿物、生物样品、器件透射电子显微象及电子衍射图,对样品微观组织、结构、缺陷等定性、定量分析。可对样品在加热、拉伸、电子辐照等条件下微观组织的变化过程进行动态观测。与普通电子显微镜相比较,它可以进行微观过程的动态实验观察、辐照效应研究、厚试样和粗大析出物的观察分析以及半导体微器件结构研究。

半导体显微镜

 

  半导体显微镜的性能特点:
  
  1、长寿命/高亮度/低色差CeB6灯丝。
  
  2、表面细节丰富的高质量图片。
  
  3、内置彩色光学显微镜。
  
  4、自动马达样品台。
  
  5、30秒快速成像,操作简单。
  
  6、光学与低倍电子双重导航。
  
  7、防震设计,对放置环境无牛条殊要求。
  
  8、样品仓低真空技术,直接观测绝缘体,需喷金。
  
  9、四分割高灵敏度背散射电子探头,兼得样品表面形貌与成份信息。
  
  半导体显微镜快速切换物镜,提高检查速度电动物镜转换器的切换速度比原来提高了20%。物镜的切换,可以操作按钮瞬间完成,提高了检查速度。三种洁净类型的物镜转换器可以按需选择。另外,UIS2物镜大幅度地提高了高倍率的偏心精度。即便是有小尺寸摄像元件的CCD摄像机,在切换倍率时也不会由视场中心附近偏离。
  
  以上就是本篇文章的全部内容了,希望可以帮助到您,如果还想了解更多详细信息,欢迎到公司进行咨询!
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